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発明の名称 判定方法、処理装置およびプログラム
出願番号 特願2022-141413
文献リンク https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-2024-036877/11/ja
概要 【課題】サンプルに含まれるマイクロプラスチックの有無を特定する。 【解決手段】判定方法は、サンプルSの後方散乱光の偏光特性を示すミューラー行列の位相遅れのパラメータRを算出するステップS1と、位相遅れのパラメータRの値から、サンプルSにおけるマイクロプラスチックの有無を判定するステップS2ないしS4を備える。 【選択図】 図1